Ntegra Spectra II - AFM-Raman-Nano-IR Systémy

Vysoce výkonný univerzální AFM Optický přístup z vrchu, z boku a zespodu optimalizovaný pro Raman, TERS a SNOM Flexibilní optický design umožňující jakoukoli kombinaci konfigurací excitace/ sběru Automatizované zarovnání AFM laseru, sondy a fotodiody Uživatelsky přívětivá změna vlnové délky laseru a fotodiody registračního systému AFM Snadná a uživatelsky přívětivá změna objektivů Integrace s IR sSNOM (volitelně) Od roku 1998 NTMDT úspěšně integruje AFM s optickou mikroskopií a spektroskopickými technikami. Podporováno je více než 30 základních a pokročilých AFM režimů včetně HybriD ModeTM, které poskytují rozsáhlé informace o fyzikálních vlastnostech povrchu vzorku. Integrace AFM s konfokální Ramanovou/fluorescenční mikroskopií poskytuje nejširší spektrum dodatečných informací o vzorku. Současně měřené AFM a Ramanovy mapy přesně stejné oblasti vzorku poskytují doplňkové informace o fyzikálních vlastnostech vzorku (AFM) a chemickém složení (Raman). Rozlišení omezené difrakcí: <200 nm v XY, <500 nm v Z (s immersním objektivem) Vysoce výkonný AFM s nízkým šumem: Z šum <0,1 nm (RMS v pásmu 10‑1000 Hz) Echelle mřížka s ultravysoce disperzí; spektrální rozlišení: 0,007 nm (< 0,1 cm‑1) Nízká vlnová čísla/THz Ramanova spektroskopie: <10 cm-1 s Braggovými objemovými filtry Vyměnitelné objektivy s kinematickými držáky: přesnost <2 µm Dvojité skenování: skenování vzorku A skenování laserovým bodem (pro mapování Hot Spot v TERS) Všechny existující TERS geometrie jsou k dispozici: osvětlení/sběr zespodu, zvrchu nebo z boku