Leica EM TXP – Systém cílového povrchu

Zařízení pro přípravu vzorků Leica EM TXP slouží k frézování, řezání, práškování a leštění vzorků před jejich zkoumáním pomocí transmisního elektronového mikroskopu (TEM) a skenovacího elektronového mikroskopu (SEM), stejně jako pomocí technik optické mikroskopie (LM). Integrovaný stereomikroskop umožňuje snadnou lokalizaci a přípravu právě viditelných vzorků; s otočným ramenem lze vzorek pozorovat přímo pod úhlem mezi 0° a 60°, nebo 90° vůči přední straně, aby bylo možné určit vzdálenost pomocí okulárové mřížky.