Ntegra Marlin - Vlastnosti

AFMSICMRaman trojitá synergie mocných nanocharakterizačních technik Mikroskopie iontové vodivosti v skákacím režimu bezkontaktní zobrazování živých buněk a povrchů želé QNM síla AFM a SICM kvantitativní nanomechanické studie Inteligentní Patch Clamp automatické cílení nanopipet pro studie iontových kanálů Vysokorychlostní dlouhý dosah vysoké rozlišení mapování na nanoscale Nanoinjekce nanopipety s SICM zpětnovazební kontrolou mohou být použity pro místní subpikolitrové injekce do jednotlivých buněk SICM (Mikroskopie skenovací iontové vodivosti) je technika SPM, která používá nanopipetu (ostrý skleněný elektroda) pro bezkontaktní 3D mapování povrchu s vysokým rozlišením. V SICM je vzdálenost sondy od vzorku řízena poklesem iontového proudu, který protéká špičkou, jak se přibližuje k povrchu vzorku. Biophys.Journ. 73, 653658 Ovládání polohy:kapacitní senzory s uzavřenou smyčkou na osách X,Y,Z Rozsah pohybu XY:30×30 μm (volitelně až 100×100 μm) Rozsah pohybu Z:25 μm Přesnost polohy Z:0.1 nm Aplikace:SICM (skákací režim), SECM, Inteligentní Patch-Clamp, Mikroinjekce, QNM, mapování pH Typický čas pro pořízení obrazu:méně než 5 minut (závisí na počtu bodů a drsnosti vzorku) Vysoce výkonný nízkošumový AFM:Z šum <0.1 nm (RMS v pásmu 10-1000 Hz) AFM aplikace:všechny standardní AFM zobrazovací režimy (40+), spektroskopie síla-vzdálenost Rozlišení omezené difrakcí:<200 nm v XY, <500 nm v Z (s ponorným objektivem) Echelle mřížka s ultravysoce disperzí; spektrální rozlišení:0.007 nm (<0.1 cm-1) Nejvyšší možné rozlišení optiky je používáno současně s AFM/SICM: až 1.45 NA Dvojité skenování:skenování vzorku A skenování laserovým bodem (pro mapování horkých míst v TERS)