Solver Nano - Specializované AFM
Solver Nano - Specializované AFMSolver Nano - Specializované AFMSolver Nano - Specializované AFMSolver Nano - Specializované AFMSolver Nano - Specializované AFM

Solver Nano - Specializované AFM

AFM zaujímá silnou pozici ve vědeckém výzkumu, protože je používán jako rutinní analytický nástroj pro charakterizaci fyzikálních vlastností s vysokým prostorovým rozlišením až na atomovou úroveň. Solver Nano je nejlepší volbou pro vědce, kteří potřebují jedno zařízení, které je cenově dostupné, robustní, uživatelsky přívětivé a profesionální. Solver Nano byl navržen týmem NTMDT SI, který také vytvořil vysoce výkonné systémy jako NTEGRA, NEXT II a NTEGRA Spectra II, které byly prokázány ve vědecké komunitě prostřednictvím mnoha klíčových publikací. Solver Nano je vybaven profesionálním 100 mikronovým CL (uzavřený smyčkový XYZ) piezotubovým skenerem s nízkou hlučností kapacitních senzorů. Kapacitní senzory ve srovnání se senzory na bázi deformace a optickými senzory mají nižší šum a vyšší rychlost v zpětné vazbě. CL skener je řízen profesionální pracovní stanicí a softwarem. Tyto schopnosti umožňují všechny základní AFM techniky v kompaktním SPM designu. Skener: 100 x 100 x 12 um uzavřený smyčkový skener, 3x3x3 um otevřený smyčkový skener Rozlišení AFM: 0.01 nm Prostředí: Měření ve vzduchu a kapalině. Kombinované video optické mikroskopy: Vestavěný 100x optický USB mikroskop Design: Stůl, cenově dostupný, robustní a uživatelsky přívětivý Vysoké napětí: 100x100x12 um Nízké napětí: 3x3x3 um Typ skeneru: Metrologický piezotubový XYZ skener se senzory Typ senzorů: XYZ – ultrarychlé kapacitní senzory Nízkohlučný XY senzor: <0.3 nm Metrologický Z senzor: <0.03 nm Metrologický XY senzor: <0.1% Linearita senzorů Metrologický Z senzor: <0.1% Rozlišení: XY - 0.3 nm, Z - 0.03 nm Linearita: XY - <0.1%, Z - <0.1% Rozsah polohování vzorku: 12 mm Rozlišení polohování vzorku: 1.5 um Rozměry vzorku: až 1,5” X 1,5” X 1/2”, 35x35x12 mm Hmotnost vzorku: Z – krokový motor Krok velikosti přístupového systému: 230 nm Rychlost přístupového systému: 10 mm za min Algoritmus jemného přístupu: K dispozici (sonda zaručena, že se zastaví před dotykem se vzorkem) AFM hlava pro Si cantilever: K dispozici. Všechny komerční cantilevery mohou být použity Typ detekce cantileveru: Laser/Detektor zarovnání Držáky sond: Držák sondy pro měření ve vzduchu. Držák sondy pro měření v kapalině. Typ montáže AFM hlavy: Kinematická montáž. Přesnost montáže 150 nm (přesnost odstranění/montáže) STM AFM hlava pro drátové sondy: K dispozici. Wolframový drát pro AFM měření. (nízkonákladové experimenty) Počet obrazů, které lze získat během jednoho skenovacího cyklu: Až 16 Velikost obrazu: Až 8Kx8K skenovací velikost DSP: Plovoucí bod 320 MHz DSP Digitální FB: Ano 6 kanálů DACs: 4 kompozitní DACs (3x16bit) pro X,Y,Z, Bias Voltage 2 16-bit DAC pro uživatelský výstup Vysokonapěťové výstupy: X, -X, Y, -Y, Z, -Z při -150 V do +150 V XY RMS šum v 1000 Hz šířce pásma: 0.3 ppm RMS Z RMS šum v 1000 Hz šířce pásma: 0.3 ppm RMS XY šířka pásma: 4 kHz (LV režim – 10 kHz) Z šířka pásma: 9 kHz Maximální proud XY zesilovačů: 1.5 mA Maximální proud Z zesilovačů: 8 mA Integrovaný demodulátor pro X,Y,Z kapacitní senzory: Ano Otevřený/uzavřený smyčkový režim pro X,Y řízení: Ano Rozsah nastavení frekvence generátoru: DC – 5 MHz Šířka pásma kanálu pro registraci deflexe: 170 Hz - 5 MHz Šířka pásma kanálu pro registraci laterální síly: 170 Hz - 5 MHz 2 další šířky pásma registračních kanálů: 170 Hz - 5 MHz Bias Voltage: ± 10 V šířka pásma 0 – 5 MHz Počet generátorů pro modulaci, uživatelsky přístupné: 2, 0-5 MHz, 0.1 Hz rozlišení Výstupy řízení krokového motoru: Dva 16-bit DACs, 20 V peak-to-peak, max proud 130 mA Další digitální vstupy/výstupy: 6 Další digitální výstupy: 1 I2C sběrnice: Ano Max. délka kabelu mezi řadičem a SPM základem nebo měřícími hlavami: 2 m Počítačové rozhraní: USB 2.0 Napájení: 110/220 V Příkon: ≤ 110 W
Podobné produkty
1/15
ZHN - Univerzální Nanomechanický Testovací Systém
ZHN - Univerzální Nanomechanický Testovací Systém
Komplexní mechanická charakterizace tenkých vrstev nebo malých povrchových oblastí s potřebným rozlišením síly a dráhy – to je oblast použití Univerzá...
DE-89079 Ulm
Nexview™ NX2 - Optický 3D profilometr povrchu
Nexview™ NX2 - Optický 3D profilometr povrchu
Optický 3D profilometr Nexview™ NX2 byl navržen pro nejnáročnější aplikace a kombinuje mimořádně vysokou přesnost, pokročilé algoritmy, flexibilitu po...
DE-64331 Weiterstadt
Phenom ParticleX TC Desktop REM
Phenom ParticleX TC Desktop REM
Analýza čistoty komponentů s univerzálním desktopovým SEM, zvětšení 200 000x, <10nm rozlišení, EDX elementární analýza a SED jako možnosti.
DE-63225 Langen
uniVision Asistent
uniVision Asistent
Rychleji k cíli s uniVision Assistant: Zpracování obrázků pro začátečníky a odborníky...
AT-4020 Linz
Systémy dokumentace gelu
Systémy dokumentace gelu
Systémy řízené PC Felix 1010 Felix 1040 Felix 1050...
DE-35447 Reiskirchen
Polosamostatné Nakládání
Polosamostatné Nakládání
100 %ní jistota osazení je zajištěna promyšleným softwarem. Polomatik SM902 nabízí díky integrovaným měřicím systémům 100% jistotu osazení a ulehčuje...
DE-92280 Kastl
Měření kontury nebo drsnosti
Měření kontury nebo drsnosti
Měření kontury nebo drsnosti s MahrSurf...
DE-28790 Schwanewede
Spektrometr FT 110A - Řada FT110 je standardní a univerzální stroj...
Spektrometr FT 110A - Řada FT110 je standardní a univerzální stroj...
Standardní konfigurace spektrometru již umožňuje analýzu: - automobilových dílů, jako jsou šrouby, matice a designové díly atd. - elektrických kompone...
DE-47807 Krefeld
Měřič kabelů VCPLab - Systém založený na kameře pro měření geometrie kabelů na izolačních pláštích a obalech
Měřič kabelů VCPLab - Systém založený na kameře pro měření geometrie kabelů na izolačních pláštích a obalech
Podrobnosti o zařízení: ■ Kryt jako ochrana proti cizímu světlu ■ Centrální ovládací panel ■ Poloautomatické zaostření a expozice ■ Odolnost proti vib...
DE-98527 Suhl
Leica EM UC7 ultramikrotom - Ultramikrotom pro řezání při pokojové teplotě a kryogenní
Leica EM UC7 ultramikrotom - Ultramikrotom pro řezání při pokojové teplotě a kryogenní
Vysoce kvalitní sekvenování vzorků pro vyšetření pomocí světelného, elektronového a atomového mikroskopu nebylo nikdy tak snadné a přesné. Leica Micro...
DE-35578 Wetzlar
NanoBalancer
NanoBalancer
Systém jemného vyvážení NanoBalancer koriguje nejmenší nevyváženosti rotujících pracovních kusů pomocí laserové ablace. Odstranění materiálu se provád...
DE-64823 Gross-Umstadt
Analyzátor disperze uhlíkového černidla - Analyzátor disperze uhlíkového černidla pro polyolefiny
Analyzátor disperze uhlíkového černidla - Analyzátor disperze uhlíkového černidla pro polyolefiny
Mikroskop je nezbytný pro zkoumání aglomerátů v polyolefinech za účelem určení stupně disperze. Digitální kamera se používá pro pořizování snímků, dok...
TR-34528 Istanbul
TOPOS Interferometrické Měřicí Systémy
TOPOS Interferometrické Měřicí Systémy
TOPOS Interferometrické měřicí systémy pro bezkontaktní kontrolu rovinnosti jemně opracovaných přesných dílů TOPOS interferometry pracují na principu...
DE-70619 Stuttgart
Formline F435 a F455: Zařízení pro měření tvaru
Formline F435 a F455: Zařízení pro měření tvaru
Měřicí přístroje F435 a F455 automaticky a spolehlivě kontrolují vaše výrobky. Tímto způsobem vyrábíte pouze komponenty nejvyšší kvality.
DE-78056 Villingen-Schwenningen
MSD systém – Vysoce rychlostní dynamometr - Testování motorů a ručních dílů při 400 000 ot./min!
MSD systém – Vysoce rychlostní dynamometr - Testování motorů a ručních dílů při 400 000 ot./min!
MSD Mega Speed Dynamometer je nejnovější inovace společnosti Magtrol v oblasti testování motorů a systémů při velmi vysokých rychlostech. Na základě v...
CH-1728 Rossens

Je tu aplikace europages!

Použijte náš vylepšený vyhledávač poskytovatelů nebo vytvářejte dotazy na cestách s novou aplikací europages pro kupující.

Stáhnout v App Store

App StoreGoogle Play